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检测设备
> 详细介绍
仪器编号
CLJC-006
中文名称
X射线荧光测厚仪
英文名称
X Ray Fluorescence
型号及规格
863:Thermo LXR-H
所在城市
广东深圳
主要技术指标
可测元素范围:钛
Ti~
铀
U
可测多层膜厚:最多
6
层
成分分析:可同时分析
30
种元素
测试项目
测量常见镀层、涂层厚度,并同时进行成分分析
服务连接:
南方科技大学材料科学与工程系
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深圳市中小企业公共服务平台
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深圳市经济贸易和信息化委员会
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深圳市科技创新委员会
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北京大学深圳研究生院创新载体平台
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深圳市新材料行业协会
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贝特瑞分析测试中心
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中科院深圳先进技术研究院公共技术服务平台
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深圳市标准技术研究院
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深圳市计量质量检测研究院
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华测检测
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深圳市发展和改革委员会
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富士康华南检测中心
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深圳大学材料学院
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哈工大学深研院材料科学与工程学院
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清华大学深圳研究生院
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