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检测设备
> 详细介绍
仪器编号
CLJC-011
中文名称
扫描电子显微镜
英文名称
Scanning electron microscopy (SEM)
型号及规格
863:Quanta 200 FEG 中科纳通:SSX-550
所在城市
广东深圳
主要技术指标
测试项目
化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥(杆菌) 、机械、电机及导电性样品,如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察)电子材料等。
服务连接:
南方科技大学材料科学与工程系
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深圳市中小企业公共服务平台
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深圳市经济贸易和信息化委员会
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深圳市科技创新委员会
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北京大学深圳研究生院创新载体平台
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贝特瑞分析测试中心
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华测检测
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