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高低温低气压试验介绍

发布日期: 2022.01.12

高低温低气压试验主要用于航空、航天、电子、科研等领域,是用设备模拟高空气压环境,用来确定确定仪器仪表、电子电工产品、材料、零部件、设备或其他产品在低气压和温度环境条件下贮存、运输或使用的适应性,并可同时对试件通电进行电气性能参数的测试。


低气压环境可能导致装备或产品产生以下物理、化学效应如下:

a、密封垫密封的壳体漏气、漏液体;

b、密封容器变形、破损或破裂;

c、低密度材料的物理和化淡定性能发生变化;

d、装备因热传导降低而发生过热;

e、润滑剂蒸了;

f、发动机的启动和工作不稳定;

g、真空密封失效;


低气压试验就是将试验样品放入试验箱,然后将箱内气压降低到有关标准规定的值,并保持规定持续时间的试验。本试验适用于在飞机货舱中空运的产品,在高原上使用的产品和空运产品在飞机受伤后发生压力迅速下降的情形。试验的苛刻程度取决于温度、低气压和暴露持续时间。

深圳市863实验室引入领先品牌的高低温低气压试验箱,可开展单低气压试验,高温低气压试验,低温低气压试验,高低温低气压试验。

设备参数:

试验区尺寸:80×90×100 (W×H×D) cm(约700L)

温度范围:(-70~160)℃

低压范围:常压(101.305kPa)~0.5kPa

降压时间:常压~1kPa≤30min

升压时间:1kPa~常压≥10min

样品架承重:40kg/层


高温低气压和低温低气压试验顺序的典型示例

*相关试验标准:

GB/T 2423.27-2020环境试验 第2部分:试验方法 试验方法和导则:温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验

GJB150.2A-2009军用装备实验室环境试验方法 低气压(高度)试验

GJB 360B-2009《电子及电气元件试验方法》方法105低气压试验

GJB 548B-2005方法1001低气压《微电子器件试验方法和程序》方法1001低气压(高空工作)

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