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ECM-100 系列离子迁移试验装置（绝缘劣化评价装置）设备能力介绍
ECM-100系列是日本J-RAS推出的离子迁移（CAF）试验暨绝缘劣化评价专用装置，专用于电子元器件、绝缘材料及PCB板的绝缘可靠性定量检测与性能评估；此装置可精准捕捉并判定离子迁移现象引发的绝缘性能衰退、阻值突变乃至短路失效等问题，是电子绝缘可靠性验证的专业测试设备。
设备可施加1~300V直流偏压，与恒温恒湿箱/HAST箱联动实现温湿度+偏压复合应力加载，模拟严苛服役环境；通过持续监测样品瞬时短路状态、绝缘电阻动态变化，作为离子迁移发生及绝缘劣化程度的判定依据；在长时间测试周期内（数小时至千小时级）连续记录电性能数据，通过数据趋势分析，评估材料/产品的绝缘寿命及抗离子迁移能力。
二、设备信息
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类别 |
核心参数/要点 |
内容说明 |
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设备型号 |
ECM100 |
设备为模块化架构，单台可扩展至400通道，易维护且可按需扩容 |
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电压范围 |
1~300V直流偏压 （可调） |
单个通道能独立调压，适配不同样品测试需求 |
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测量范围 |
2kΩ~10TΩ |
覆盖绝缘材料从低阻到超高阻的绝缘劣化全量程监测需求 |
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通道配置 |
100通道（20模块） |
每通道独立实现电压输出、数据测量、过流保护功能，通道间无干扰，且所有通道均可共极（GND）进行测试 |
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采样性能 |
16ms高速采样 |
可精准捕捉瞬态短路等突发失效信号，保障测试数据完整性 |
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测量精度 |
高侧测量+三重隔离线+主动屏蔽设计 |
有效降低漏电流及外部电磁干扰，保证绝缘电阻、失效信号的准确性 |
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运行模式 |
All-in-One独立运行（脱离PC） |
测试数据自动存储于CF卡；兼顾现场操作便捷性与远程数据管理 |
三、设备系统构成及原理图：
IPC-TM-650 2.6.7 绝缘电阻测试；
IPC-TM-650 2.6.3F 印制板-耐湿性与绝缘电阻测试；
IPC-TM-650 2.6.3.1E 阻焊膜-耐湿性与绝缘电阻测试；
IPC-TM-650 2.6.3.3B 助焊剂-表面绝缘电阻测试；
IPC-TM-650 2.6.14.1 电化学迁移测试；
IPC-TM-650 2.6.25C CAF（导电阳极丝）测试；
五、应用范围
主要应用于电路板及相关电子组装材料的绝缘性能专业评估，可开展焊剂、印制电路板、光刻胶、焊锡等品类的绝缘性能检测，同时适配高密度互连电路板的绝缘可靠性专项验证；亦可模拟高温、高湿等严苛环境条件，评估各类材料在不同环境应力下的绝缘性能表现与失效规律，为材料选型、工艺优化及产品可靠性设计提供核心测试数据支撑。
